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发明名称
测试半导体元件的设备及方法
摘要
一种用于测试半导体元件的设备包括一桌台其具有用来容纳固持待测半导体元件的托盘的容器。一界面被放置在该等容器与至少一测试装置之间。该界面被客制化用以电性地将半导体元件连接至该至少一测试装置。该设备亦包括一压机(press)其朝向该桌台移动并对每一半导体元件施加力量,藉以将半导体元件固定在测试的定位上并将电连接紧固至该界面上。
申请公布号
TWI416136
申请公布日期
2013.11.21
申请号
TW096108036
申请日期
2007.03.08
申请人
麦翠斯测试股份有限公司 美国
发明人
克莉斯汀 柯久尼纳;杜如 爱素巴
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址
美国
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