发明名称 基板检查用之检查治具
摘要 本发明之课题为:提供基板检查用之检查治具,将检查用探针之前端导引至检查基板之既定部分,并防止弯曲等变形,而且从前端自动去除污物等。;为解决上述课题,基板检查用之检查治具系用以固持复数之检查用探针者,该探针具有:前端部,接触于检查基板之配线图案的既定部分,用以对检查基板之配线图案作检查;及后端部,连接于测定装置;且基板检查用之检查治具包含:底板,用以固持复数之检查用探针的后端部;及头部,具有插入穿通有复数检查用探针之前端部的开孔,用以将前端部导引至配线图案的既定部分;且头部之部分或全部可沿头部之开孔的轴线方向移动。
申请公布号 TWI427297 申请公布日期 2014.02.21
申请号 TW098129962 申请日期 2009.09.04
申请人 日本电产理德股份有限公司 日本 发明人 藤野真;宫武忠数;加藤穰
分类号 G01R1/073 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼
主权项
地址 日本