发明名称 氧化铟锡低温沉积方法及系统
摘要 本发明涉及一种氧化铟锡低温沉积方法和系统,该方法包括以下步骤:将基材置于真空镀膜室内,镀膜室内具有氧化铟锡靶材,在氧化铟锡靶材周围安装冷却脱汽装置;用冷却脱汽装置对基材进行脱汽处理,去除水汽和杂质气体;控制所述氧化铟锡靶材的表面磁场强度在600-900高斯范围内,在100℃温度以下和工作气体下进行镀膜,在基材上形成氧化铟锡膜。该系统包括真空镀膜室、氧化铟锡靶材、基材支撑装置、冷却脱汽装置以及磁场装置。该方法和系统在低温下进行,通过冷却脱汽装置致冷,捕捉水汽和杂质气体,净化沉积氛围,提高镀膜质量,通过提高磁场强度,得到质量高,电阻率低的氧化铟锡晶体。
申请公布号 CN104120397A 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201410374901.7 申请日期 2014.07.31
申请人 深圳市豪威薄膜技术有限公司 发明人 许生;王学雷;许朝阳
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 深圳市弘拓知识产权代理事务所(普通合伙) 44320 代理人 彭年才
主权项 一种氧化铟锡低温沉积方法,其特征在于,包括以下步骤:将基材置于真空镀膜室内,所述真空镀膜室内具有氧化铟锡靶材,在所述氧化铟锡靶材周围安装冷却脱汽装置;用冷却脱汽装置对基材进行脱汽处理,去除水汽和杂质气体;控制所述氧化铟锡靶材的表面磁场强度在600‑900高斯范围内,在100℃温度以下和工作气体下进行真空镀膜,在基材上形成氧化铟锡镀膜。
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