| 摘要 |
<p>Es werden ein Bewertungsverfahren für ein Photovoltaikelement (1), eine Messsystemkonfiguration (8) zum Durchführen von zeitlich gesteuerten Messungen von Strom-Spannungs-Kennlinien von austauschbaren Photovoltaikelementen (1) und ein Bewertungsvorgang mit Verwendung der Messsystemkonfiguration (8) bereitgestellt. Das Verfahren umfasst eine zeitlich gesteuerte Messung einer Strom-Spannungs-Kennlinie eines Photovoltaikelements (1), das in einer Messschaltung angeordnet wird, um mindestens einen elektrischen Strom und/oder eine elektrische Spannung der Strom-Spannungs-Kennlinie zu messen, ein Belichten des Photovoltaikelements (1) mit mindestens einem kurzen Lichtblitz mit einer diskreten Belichtungsdauer und das Durchführen einer Reihe von Messschritten während der Belichtungsdauer. Der kurze Lichtblitz wird von einem pulsbaren lichtemittierenden Element (2) erzeugt. Die Messschritte umfassen das schrittweise Ändern mindestens eines der Parameter elektrische Stromstärke, elektrische Spannung, oder Impedanzlast und das Abtasten mindestens eines Wertes, der mit mindestens einem der anderen Parameter elektrische Stromstärke, elektrische Spannung, oder Impedanzlast in Beziehung steht. Kapazitätsbedingte Hysterese-Effekte werden bei der Strom-Spannungs-Messung des Photovoltaikelements (1) vermieden.</p> |
