发明名称 一种激光器Q开关性能测试装置
摘要 本实用新型公开了一种激光器Q开关性能测试装置,装置包括按照光路方向依次放置且同轴的连续激光器、起偏器、1/4波片、检偏器和激光能量计,待测Q开关放置在起偏器波片之间;装置还包括带有刻度的旋转架,起偏器、Q开关、1/4波片和检偏器安装在带有刻度的旋转架上以计量其相位方位。本实用新型装置通过测量连续激光通过光路后的能量变化情况,为Q开关性能的检测和调整提供了一种量化方法,可很好地运用于脉冲激光器Q开关性能的测试与检修中。
申请公布号 CN204128783U 申请公布日期 2015.01.28
申请号 CN201420684024.9 申请日期 2014.11.14
申请人 中国人民解放军海军工程大学 发明人 张晓晖;孙春生;张爽;饶炯辉;韩宏伟;王冬冬
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 宋业斌
主权项 一种激光器Q开关性能测试装置,其特征在于,所述装置包括按照光路方向依次放置且同轴的连续激光器(1)、起偏器(2)、1/4波片(4)、检偏器(5)和激光能量计(8),待测Q开关放置在起偏器(2)和1/4波片(4)之间;所述装置还包括带有刻度的旋转架,起偏器(2)、Q开关、1/4波片(4)和检偏器(5)安装在带有刻度的旋转架上以计量其相位方位。
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