发明名称 半導体装置
摘要 <p>ゲート電極(7)とエミッタ電極(9)を持つ絶縁ゲート型バイポーラトランジスタがトランジスタ領域に設けられている。トランジスタ領域の周囲に終端領域が配置されている。トランジスタ領域において、N型ドリフト層(1)の下に第1のN型バッファ層(18)が設けられている。第1のN型バッファ層(18)の下にP型コレクタ層(19)が設けられている。終端領域において、N型ドリフト層(1)の下に第2のN型バッファ層(20)が設けられている。P型コレクタ層(19)と第2のN型バッファ層(20)にコレクタ電極(21)が直接に接続されている。第2のN型バッファ層(20)の不純物濃度はコレクタ電極(21)に近づくほど小さくなる。第2のN型バッファ層(20)は、コレクタ電極(21)とはオーミックコンタクトを構成していない。</p>
申请公布号 JPWO2013005304(A1) 申请公布日期 2015.02.23
申请号 JP20130522642 申请日期 2011.07.05
申请人 发明人
分类号 H01L29/739;H01L29/06;H01L29/78 主分类号 H01L29/739
代理机构 代理人
主权项
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