发明名称 |
Passivierung und Facettierung für FIN-Feldeffekttransistor |
摘要 |
Es ist ein Fin-Feldeffekttransistor (FinFET) und ein Verfahren zum Ausbilden desselben vorgesehen. Der FinFET weist einen Grat auf, der eine oder mehrere Halbleiterschichten aufweist, die epitaktisch auf einem Substrat aufgezogen werden. Eine erste Passivierungsschicht wird über den Graten ausgebildet und Isolierbereiche werden zwischen den Graten ausgebildet. Ein oberer Abschnitt der Grate wird umgebildet und eine zweite Passivierungsschicht wird über dem umgebildeten Abschnitt ausgebildet. Dann kann eine Gatestruktur über den Graten ausgebildet werden und Source/Drain-Bereiche können ausgebildet werden. |
申请公布号 |
DE102013112389(A1) |
申请公布日期 |
2015.04.16 |
申请号 |
DE201310112389 |
申请日期 |
2013.11.12 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MFG. CO., LTD. |
发明人 |
CHEN, YEN-YU;SHIH, CHI-YUAN;LIU, CHI-WEN |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336;H01L21/8234;H01L29/161 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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