发明名称 适用于积体电路晶片之多点温度感测方法及其系统
摘要
申请公布号 TWI489093 申请公布日期 2015.06.21
申请号 TW102117410 申请日期 2013.05.16
申请人 国立成功大学 发明人 张顺志;黄冠颖;李昆忠;苏文钰;陈中和;邱沥毅;郭致宏;蔡建泓;林家民
分类号 G01K13/00 主分类号 G01K13/00
代理机构 代理人 陈丰裕 台南市安平区建平五街122号
主权项 一种适用于积体电路晶片之多点温度感测系统,积体电路晶片系具有复数个能执行特定功能之模块,多点温度感测系统包括有:至少一从属温度感测器,嵌设于该模块中,使该模块欲量测温度处皆设有该从属温度感测器;以及一主要温度感测器,系嵌设于该积体电路晶片中,并电性连接所有该从属温度感测器,该主要温度感测器校正该从属温度感测器因制程-电压-温度变异所产生之变异量,其中该从属温度感测器于布局后的面积系不大于该主要温度感测器布局后面积之1/40。
地址 台南市东区大学路1号
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