发明名称 A Method for the Toxicity Assessments of Nano-Materials using Selective Plane Illumination Microcopy
摘要 <p>본 발명은 나노 물질 위해성 평가 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 선택적 평면 조사 현미경(Selective Plane Illumination Microcopy, SPIM) 이용하여, 실제 세포배지내 및 세포에 전달되는 용량(Delivered & Cellular dose) 측정상의 종래 나노 물질 위해성 평가법의 오류를 개선한, 나노 물질 위해성 평가 방법에 관한 것이다. 본 발명은 나노물질의 위해성 평가에서 보다 정확하고 재현성 있는 평가결과를 얻어낼 수 있다.</p>
申请公布号 KR101535918(B1) 申请公布日期 2015.07.13
申请号 KR20110043947 申请日期 2011.05.11
申请人 发明人
分类号 G01N15/14;G01N21/94;G01N33/52;G01N33/53 主分类号 G01N15/14
代理机构 代理人
主权项
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