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发明名称
面板亮点检测方法及系统
摘要
一种面板亮点检测方法,适用于检测一面板之亮点缺陷,该方法包含以下步骤:取像模组撷取一代表亮点缺陷及异物所在之位置的透射影像;取像模组撷取一反射影像,该反射影像中亮度较高处是光线在被该面板表面之异物所反射的情况下通过一偏振镜而撷取形成,反射光在面板表面没有异物的情况下是沿一第一方向偏振的线偏振光,该偏振镜具有一光轴且该光轴垂直该第一方向而能阻挡该线偏振光;该处理模组执行影像相减,将透射影像的各画素值减去反射影像的各画素值而形成一结果影像,该结果影像中亮度较高处代表亮点缺陷所在之位置。
申请公布号
TW201530121
申请公布日期
2015.08.01
申请号
TW103102935
申请日期
2014.01.27
申请人
由田新技股份有限公司 UTECHZONE CO., LTD.
发明人
邓亦书 DENG, YI SHU
分类号
G01N21/88(2006.01)
主分类号
G01N21/88(2006.01)
代理机构
代理人
高玉骏杨祺雄
主权项
地址
新北市中和区连城路268号10楼之1 TW
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