发明名称 光学量测系统及以此系统量测线性位移、转动角度、滚动角度之方法;OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING LINEAR DISPLACEMENT, ROTATION AND ROLLING ANGLES
摘要 本发明系关于一种光学量测系统,及一种用于量测线性位移、俯仰角度、摇摆角度、滚动角度与马达转速之量测方法。本发明主要采用三种光学量测机制所构成,第一是雷射自混频干涉技术,用于线性位移的量测;第二是光学自动视准仪原理,用于俯仰及摇摆角度的量测;第三则是偏极化光学原理,用于滚动角度的量测。本发明之光学量测系统可直接由一般市面随手可得的DVD光碟机中之光学读取头(OPU)构成,亦可完全不必修改即可使用。
申请公布号 TW201530100 申请公布日期 2015.08.01
申请号 TW103102351 申请日期 2014.01.22
申请人 中央研究院 ACADEMIA SINICA 发明人 郑仲翔 CHENG, CHUNG HSIANG;陈敬修 CHEN, CHING HSIU;胡恩德 HWU, EN TE
分类号 G01D5/26(2006.01);G01B11/00(2006.01);G01P3/36(2006.01) 主分类号 G01D5/26(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 台北市南港区研究院路2段128号 TW