发明名称 |
质量分析方法以及质量分析装置 |
摘要 |
本发明提供一种质量分析方法及质量分析装置。修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱,并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度,对测定对象物质的浓度进行定量。 |
申请公布号 |
CN102655074B |
申请公布日期 |
2015.09.30 |
申请号 |
CN201210024742.9 |
申请日期 |
2012.02.06 |
申请人 |
株式会社日立高新技术 |
发明人 |
杉山益之;桥本雄一郎;长谷川英树;桥场周平;熊野峻 |
分类号 |
H01J49/00(2006.01)I;H01J49/26(2006.01)I |
主分类号 |
H01J49/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
丁文蕴;郑永梅 |
主权项 |
一种质量分析方法,其特征在于,包括:将试样和已知浓度的标准物质在离子源进行离子化的工序;将试样离子和标准物质离子导入离子陷阱的工序;将上述试样离子和上述标准物质离子同时存储在上述离子陷阱的工序;在将上述试样离子保持在上述离子陷阱的状态下,质量选择性地排出标准物质离子并进行检测的工序;对在质量选择性地排出上述标准物质离子并进行检测的工序中保持在上述离子陷阱中的上述试样离子的前体离子进行分离的工序;之后,离解上述试样的前体离子而生成碎片离子的工序;从上述离子陷阱质量选择性地排出离解后的上述碎片离子并进行检测的工序;以及根据检测到的上述标准物质离子的强度和离解后的上述试样的碎片离子的强度计算上述试样的浓度的工序。 |
地址 |
日本东京都 |