发明名称 一种形成肖特基二极管的方法
摘要 本发明涉及半导体领域,特别涉及一种形成肖特基二极管方法,包括以下步骤:a)提供第一导电类型第一半导体层;b)于第一半导体层中形成第二导电类型保护环,以及多个相互间隔且位于保护环内第二导电类型掩埋区;c)于第一导电类型第一半导体层中形成多个相互间隔的沟槽,所述沟槽位于所述掩埋区之上,单个沟槽的纵截面宽度等于或大于单个掩埋区纵截面宽度;d)于第一导电类型第一半导体层之上和沟槽中形成金属层;e)于金属层上和第一导电类型第一半导体层的背面形成金属电极。本发明肖特基二极管工艺成本和难度低,且导通压降小。
申请公布号 CN103094100B 申请公布日期 2015.09.30
申请号 CN201110332623.5 申请日期 2011.10.28
申请人 比亚迪股份有限公司 发明人 曾爱平;张兴来;陈朝伟;李春霞;陈宇
分类号 H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种形成肖特基二极管的方法,其特征在于,包括以下步骤:a)提供第一导电类型第一半导体层;b)于第一半导体层中形成第二导电类型保护环,以及多个相互间隔且位于保护环内的第二导电类型掩埋区;c)于第一导电类型第一半导体层中形成多个相互间隔的沟槽,所述沟槽位于所述掩埋区之上,单个沟槽的纵截面宽度等于或大于单个掩埋区纵截面宽度;d)于第一导电类型第一半导体层之上和沟槽中形成金属层;e)于金属层上和第一导电类型第一半导体层的背面形成金属电极。
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