发明名称 | 数字集成电路仿真方法及仿真器 | ||
摘要 | 本发明公开了一种数字集成电路仿真方法和仿真器,方法包括:获得所述数字集成电路的电路图及该电路图中的检测节点;根据所述检测节点确定所述电路图中与两值和多值的仿真边界相关的节点以及该相关节点的状态;根据所述相关节点以及该相关节点的状态,确定所述电路图中两值和多值的仿真边界的边界位置及该边界位置的边界类型;在所述边界位置根据该边界位置的边界类型插入转换电路;以及对插入转换电路的电路图进行建模及仿真。该方法和仿真器在保证数字集成电路芯片功能的正确性的情况下,能够减少仿真时间和需要的存储资源。 | ||
申请公布号 | CN104951583A | 申请公布日期 | 2015.09.30 |
申请号 | CN201410127820.7 | 申请日期 | 2014.03.31 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | 刘洋;李德贤;刘丹;李宇飞 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 酆迅;陈颖 |
主权项 | 一种数字集成电路仿真方法,包括:获得所述数字集成电路的电路图及该电路图中的检测节点;根据所述检测节点确定所述电路图中与两值和多值的仿真边界相关的节点以及该相关节点的状态;根据所述相关节点以及该相关节点的状态,确定所述电路图中两值和多值的仿真边界的边界位置及该边界位置的边界类型;在所述边界位置根据该边界位置的边界类型插入转换电路;以及对插入转换电路的电路图进行建模及仿真。 | ||
地址 | 美国纽约阿芒克 |