发明名称 粒度分布测定装置
摘要 本发明提供一种粒度分布测定装置,可以使测定条件的评价变得容易,该测定条件的评价用于对各个试样设定最佳的测定条件。所述粒度分布测定装置包括:装置主体,进行试样的粒度分布测定;以及界面设备,接收来自操作员的输入并对装置主体进行驱动控制,并且接收来自装置主体的测定结果并进行显示,界面设备用图表示用于进行粒度分布测定所应该设定的操作参数的值与对应于操作参数的各值的、利用装置主体的测定结果得到的评价参数的值的关系。
申请公布号 CN102192868B 申请公布日期 2015.09.30
申请号 CN201110035781.4 申请日期 2011.02.10
申请人 株式会社堀场制作所 发明人 菅澤央昌
分类号 G01N15/02(2006.01)I 主分类号 G01N15/02(2006.01)I
代理机构 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人 李雪春;武玉琴
主权项 一种粒度分布测定装置,其特征在于,该粒度分布测定装置包括:装置主体,进行试样的粒度分布测定;以及界面设备,接收来自操作员的输入并对所述装置主体进行驱动控制,并且接收来自所述装置主体的测定结果并进行显示,所述界面设备在同一画面上同时显示评价用图及测定结果图,该评价用图表示了用于进行粒度分布测定所应该设定的操作参数的值与对应于所述操作参数的各值的、利用所述装置主体的测定结果得到的评价参数的值之间的关系,该测定结果图表示根据所述操作参数计算的来自所述装置主体的测定结果,所述操作参数是试样的循环速度、超声波振荡器的动作时间、超声波的强度、数据的获取次数、测定中的超声波振荡器是否动作、试样浓度或者试样的折射率,所述界面设备把在所述评价用图中表示的所述操作参数的各值的测定结果在所述测定结果图中同时表示。
地址 日本京都府