一种芯片指令高速缓存失效的检测方法及系统

摘要

本发明提供一种芯片指令高速缓存失效的检测方法，所述方法为：1、在芯片指令高速缓存中预设复数个最小指令单元，2、根据宏函数的递归性，逐级创建宏函数单元，各级宏函数单元包裹有最小指令单元，且每一级宏单元不断的包裹前一级宏单元构成了一大函数，3、CPU内的逻辑运算单元ALU从高速缓存中获取大函数中所有的最小指令单元的指令进行执行，逻辑运算单元ALU访问高速缓存的每个比特，大函数中的指令会依次执行，大函数执行完成，则整个芯片指令高速缓存进行了遍历；4、根据大函数是否完成即能判断芯片指令高速缓存是否失效或者异常。本发明还提供了一种芯片指令高速缓存失效的检测系统，本发明提高检测效率，加快芯片检测的流通环节，省时省力。

主权项

一种芯片指令高速缓存失效的检测方法，其特征在于:包括如下步骤：步骤1、在芯片指令高速缓存中预设复数个最小指令单元，所述最小指令单元是一段具有自我判断执行结果正确与否的校验程序；步骤2、根据宏函数的递归性，逐级创建宏函数单元，各级宏函数单元包裹有最小指令单元，且每一级宏单元不断的包裹前一级宏单元构成了一大函数，所述大函数占满了整个芯片指令高速缓存；步骤3、CPU内的逻辑运算单元ALU从高速缓存中获取大函数中所有的最小指令单元的指令进行执行，逻辑运算单元ALU访问高速缓存的每个比特，大函数中的指令会依次执行，大函数执行完成，则整个芯片指令高速缓存进行了遍历；步骤4、若大函数执行过程中有错误发生，则其中某个最小指令单元自我校验会错误，该最小指令单元会退出执行，大函数执行中断；根据大函数是否完成即能判断芯片指令高速缓存是否失效或者异常。