| 发明名称 | 残像测试、消除方法和残像测试、消除装置 | ||
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，涉及显示领域，能够解决现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。本发明的残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。 | ||
| 申请公布号 | CN104950494A | 申请公布日期 | 2015.09.30 |
| 申请号 | CN201510450701.X | 申请日期 | 2015.07.28 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 张浩;孙伟;时凌云;孙海威 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G09G3/36(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种残像测试方法，其特征在于，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||