发明名称 |
透明な又は低コントラストの試料の分析のための自動顕微鏡焦点システム及び方法 |
摘要 |
顕微鏡システム及び方法が、対物レンズの被写界深度の境界を実験的に決定する。このシステム及び方法は、大部分が自動化され、撮像される試料の操作が、プロセッサ及びそれに伴う装置によって実行される。実験的な被写界深度の計算もまた同様に自動化される。被写界深度の境界が実験的に決定されると、試料は、特に透明又は半透明であるときには、被写界深度よりも小さいユーザ定義された深さで正確に撮像されることが可能である。【選択図】図1 |
申请公布号 |
JP2015528590(A) |
申请公布日期 |
2015.09.28 |
申请号 |
JP20150530045 |
申请日期 |
2013.08.29 |
申请人 |
ナノトロニクス イメージング リミテッド ライアビリティ カンパニーNANOTRONICS IMAGING,LLC. |
发明人 |
プットマン マシュー シー;プットマン ジョン ビー;アーチャー ジェフリー エス;オーランド ジュリー エー |
分类号 |
G02B21/00;G02B7/28;G02B7/36 |
主分类号 |
G02B21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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