| 摘要 |
<p>크랭크 샤프트의 크랭크 핀, 웨브 및 필릿부의 탐상에 이용하는 크랭크 샤프트 탐상 장치(1)는, 크랭크 핀(C2)을 협지 가능하게 구성되는 탐상 헤드로서, 상기 크랭크 핀(C2)의 축 표면을 탐상 가능한 제 1 프로브(2b) 또는 축 근원의 필릿부를 탐상 가능한 제 2 프로브(3b)를 갖는 한쌍의 샤프트 탐상 헤드(2, 3)와, 상기 크랭크 핀(C2)에 접촉 가능하게 구성되는 탐상 헤드로서, 웨브(C3)의 측면을 탐상 가능한 제 3 프로브(4b)를 갖는 연직면 탐상 헤드(4)를 구비하며, 상기 연직면 탐상 헤드(4) 및 한쌍의 샤프트 탐상 헤드(2, 3)가 연직면 내에서 이동 가능하게 구성되어 있는 것을 특징으로 한다.</p> |
