发明名称 |
晶片封装体及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种晶片封装体及其制造方法。该晶片封装体包含半导体晶片、至少一沟槽、多条第一重布局金属线路以及至少一凸起。半导体晶片具有设置于该半导体晶片的上表面的多个导电垫。沟槽自上表面朝半导体晶片的下表面延伸,且配置于半导体晶片的侧边。多条第一重布局金属线路设置于上表面,所述第一重布局金属线路分别与导电垫电性连接,且分别延伸至沟槽内。凸起设置于沟槽内且位于相邻的第一重布局金属线路之间。本发明能提高晶片封装体的制程良率,并有效降低生产成本。 |
申请公布号 |
CN104934397A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201510087272.4 |
申请日期 |
2015.02.25 |
申请人 |
精材科技股份有限公司 |
发明人 |
何彦仕;郑家明;张恕铭 |
分类号 |
H01L23/488(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/488(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种晶片封装体,其特征在于,包含:一半导体晶片,具有设置于该半导体晶片的一上表面的多个导电垫;至少一沟槽,自该上表面朝该半导体晶片的一下表面延伸,该沟槽配置于该半导体晶片的一侧边;多条第一重布局金属线路,设置于该上表面,所述第一重布局金属线路分别与所述导电垫电性连接,且所述第一重布局金属线路分别延伸至该沟槽内;以及至少一凸起,设置于该沟槽内且位于相邻的第一重布局金属线路之间。 |
地址 |
中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼 |