发明名称 晶片封装体及其制造方法
摘要 本发明提供一种晶片封装体及其制造方法。该晶片封装体包含半导体晶片、至少一沟槽、多条第一重布局金属线路以及至少一凸起。半导体晶片具有设置于该半导体晶片的上表面的多个导电垫。沟槽自上表面朝半导体晶片的下表面延伸,且配置于半导体晶片的侧边。多条第一重布局金属线路设置于上表面,所述第一重布局金属线路分别与导电垫电性连接,且分别延伸至沟槽内。凸起设置于沟槽内且位于相邻的第一重布局金属线路之间。本发明能提高晶片封装体的制程良率,并有效降低生产成本。
申请公布号 CN104934397A 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201510087272.4 申请日期 2015.02.25
申请人 精材科技股份有限公司 发明人 何彦仕;郑家明;张恕铭
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种晶片封装体,其特征在于,包含:一半导体晶片,具有设置于该半导体晶片的一上表面的多个导电垫;至少一沟槽,自该上表面朝该半导体晶片的一下表面延伸,该沟槽配置于该半导体晶片的一侧边;多条第一重布局金属线路,设置于该上表面,所述第一重布局金属线路分别与所述导电垫电性连接,且所述第一重布局金属线路分别延伸至该沟槽内;以及至少一凸起,设置于该沟槽内且位于相邻的第一重布局金属线路之间。
地址 中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼