发明名称 一种LED性能测试箱、标定方法及性能测试方法
摘要 本发明公开了一种LED性能测试箱、标定方法及性能测试方法,测试箱包括箱体和取光装置,还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤和连接件,箱体上设有通孔,转轴和光纤穿过通孔,取光装置设置在箱体内部,设置在箱体外部的第一电机驱动转轴转动,连接件固定在转轴处于箱体内的一端,第二电机固定在连接件上,第二电机驱动取光装置靠近或远离转轴,光纤的第一端与取光装置连接、且第二端在箱体外。本发明的LED性能测试箱结构简单、操作简便、可以在线检测LED性能参数。
申请公布号 CN102967446B 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201210471470.7 申请日期 2012.11.20
申请人 深圳清华大学研究院 发明人 胡益民;刘岩;敬刚;张志甜;杨永刚;张超;朱惠忠;刘文斌;李永光;汤皎宁;曹广忠;高文杰;袁文龙;梁荣;陆兆隆
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人 江耀纯
主权项 一种LED性能测试箱,包括箱体和取光装置,其特征是:还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤、测光仪、LED固定盘、计算机、连接件、第一旋转编码器和第二旋转编码器,所述第一旋转编码器用于反馈所述第一电机转动角度,所述第二旋转编码器用于反馈所述第二电机转动角度,所述箱体上设有通孔,所述转轴和光纤穿过所述通孔,所述取光装置设置在所述箱体内部,设置在所述箱体外部的所述第一电机驱动所述转轴转动,所述连接件固定在所述转轴处于所述箱体内的一端,所述第二电机固定在所述连接件上,所述第二电机驱动所述取光装置靠近或远离所述转轴,所述光纤的第一端与所述取光装置连接,所述光纤的第二端与所述测光仪连接且所述第二端在所述箱体外;所述LED固定盘具有至少两个分布有LED固定位的同心圆周,所述圆周的圆心在所述转轴所处的直线上,以使所述取光装置转动时对准各个LED固定位上的LED;计算机用于记录第二旋转编码器的输出信号,所述第一电机用于驱动所述取光装置在第一圆周上运动,同时所述测光仪用于检测取光装置是否对准某个LED;当取光装置对准某个LED时,所述计算机用于记录第一旋转编码器的输出信号,建立该输出信号与LED的位置的对应关系,直至建立第一圆周上的所有LED的位置与相应的第一旋转编码器的输出信号和第二旋转编码器的输出信号的对应关系;所述第二电机用于驱动所述取光装置沿垂直于所述转轴方向运动至第二圆周上,所述计算机用于记录第二旋转编码器的输出信号;所述第一电机用于驱动所述取光装置在所述第二圆周上运动,同时所述测光仪用于检测所述取光装置是否对准某个LED;当取光装置对准某个LED时,所述计算机用于记录所述第一旋转编码器的输出信号,建立该输出信号与LED的位置的对应关系,直至建立所述第二圆周上的所有LED的位置与相应的所述第一旋转编码器的输出信号和第二旋转编码器的输出信号的对应关系。
地址 518000 广东省深圳市南山区高新技术产业园区高新南七道清华大学研究院A302室