发明名称 |
一种半导体自动进给检验平台 |
摘要 |
本发明公开了一种半导体自动进给检验平台,包括底座、显微镜、纵向进给组件、横向进给组件,进一步的,所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮,所述的第一按钮控制第一伺服电机正转,所述的第二按钮控制第一伺服电机反正,所述的第三按钮控制第二伺服电机正转,所述的第四按钮控制第二伺服电机反转,通过设定按下第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮的顺序进行检验可保证每个半导体都被检验,不会发生漏检和重复检验,降低操作人员劳动强度,提高生产效率。 |
申请公布号 |
CN104925465A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201510236803.1 |
申请日期 |
2015.05.11 |
申请人 |
池州华钛半导体有限公司 |
发明人 |
彭勇;王明辉;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪 |
分类号 |
B65G25/02(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I |
主分类号 |
B65G25/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海精晟知识产权代理有限公司 31253 |
代理人 |
冯子玲 |
主权项 |
一种半导体自动进给检验平台,包括底座、显微镜,其特征在于还包括:纵向进给组件,所述的纵向进给组件还包括第一托板、第一伺服电机、第一丝杠、第一丝杠螺母,所述的第一托板位于底座上端,所述的第一托板与底座滑动相连,所述第一伺服电机位于第一托板下表面上端,所述的第一伺服电机与第一托板螺纹相连,所述的第一丝杠位于第一伺服电机下端,所述的第一丝杠与第一伺服电机紧配相连且与第一托板转动相连,所述的第一丝杠螺母贯穿第一丝杠,所述的第一丝杠螺母与第一丝杠螺纹相连且与底座螺纹相连;以及横向进给组件,所述的横向进给组件还包括第二托板、第二伺服电机、第二丝杠、第二丝杠螺母,所述的第二托板位于第一托板上端,所述的第二托板与第一托板滑动相连,所述第二伺服电机位于第二托板下表面右端,所述的第二伺服电机与第二托板螺纹相连,所述的第二丝杠位于第二伺服电机下端,所述的第二丝杠与第二伺服电机紧配相连且与第二托板转动相连,所述的第二丝杠螺母贯穿第二丝杠,所述第二丝杠螺母与第二丝杠螺纹相连且与第一托板螺纹相连。 |
地址 |
247000 安徽省池州市经济技术开发区金安工业园电子信息产业园8号标准化厂房 |