发明名称 |
半导体元件及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种半导体元件及其制造方法,所述半导体元件包含:基板、第一及第二槽状结构。第一槽状结构位于该基板,包含第一导电层、第一掺杂层及第一绝缘层,第一绝缘层位于该第一导电层与该第一掺杂层之间。第二槽状结构位于该基板,与该第一槽状结构之间以该基板的一间隔部分作为间隔,包含第二导电层及第二绝缘层。该第一掺杂层设置第一接点,该基板的该间隔部分设置第二接点,该第二导电层设置第三接点;其中,该基板的该间隔部分形成一电阻,耦接该第一接点与该第二接点之间,该基板、该第二绝缘层及该第二导电层形成一电容,耦接该第二接点与该第三接点之间。本发明能够缩小元件面积。 |
申请公布号 |
CN104934414A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201410100479.6 |
申请日期 |
2014.03.18 |
申请人 |
瑞昱半导体股份有限公司 |
发明人 |
颜孝璁;简育生;叶达勋 |
分类号 |
H01L23/60(2006.01)I;H01L21/027(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/60(2006.01)I |
代理机构 |
隆天知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
赵根喜;李昕巍 |
主权项 |
一种半导体元件,包含:一基板;一第一槽状结构,位于该基板,包含:一第一导电层;一第一掺杂层,其掺杂浓度高于该基板的掺杂浓度;以及一第一绝缘层,位于该第一导电层与该第一掺杂层之间;一第二槽状结构,位于该基板,与该第一槽状结构之间以该基板的一间隔部分作为间隔,包含:一第二导电层;一第二掺杂层,其掺杂浓度高于该基板的掺杂浓度;以及一第二绝缘层,位于该第二导电层与该第二掺杂层之间;一第一接点,连接该第一掺杂层;一第二接点,连接该第二掺杂层;以及一第三接点,连接该第二导电层;其中,该基板的该间隔部分形成一电阻,耦接该第一接点与该第二接点之间,该第二掺杂层、该第二绝缘层及该第二导电层形成一电容,耦接该第二接点与该第三接点之间。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |