发明名称 | 离子迁移谱仪用隔膜栅检验测试装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了离子迁移谱仪用隔膜栅检验测试装置,其包括:离子迁移谱仪检验组件;隔膜栅固定组件,所述隔膜栅固定组件固定待检验隔膜栅,并与离子迁移谱仪检验组件相接,利用待检验隔膜栅将离子迁移谱仪检验组件中离子迁移管的迁移区与大气隔离;进样组件,所述进样组件与隔膜栅固定组件连通。本实用新型提供的离子迁移谱仪用隔膜栅检验测试装置,其整体结构简单,易于实现,操作方便,且能够快速、准确的测试半透膜的渗透能力。 | ||
申请公布号 | CN204666476U | 申请公布日期 | 2015.09.23 |
申请号 | CN201520388423.5 | 申请日期 | 2015.06.05 |
申请人 | 公安部第三研究所 | 发明人 | 温亚珍;舒天民;陈嘉敏;陈勇 |
分类号 | G01N15/08(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/08(2006.01)I |
代理机构 | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人 | 刘常宝 |
主权项 | 离子迁移谱仪用隔膜栅检验测试装置,其特征在于,所述隔膜栅检验测试装置包括:离子迁移谱仪检验组件;隔膜栅固定组件,所述隔膜栅固定组件固定待检验隔膜栅,并与离子迁移谱仪检验组件相接,利用待检验隔膜栅将离子迁移谱仪检验组件中离子迁移管的迁移区与大气隔离;进样组件,所述进样组件与隔膜栅固定组件连通。 | ||
地址 | 200031 上海市徐汇区岳阳路76号 |