发明名称 一种PVD系统工艺参数的优化方法
摘要 本发明提供一种PVD系统工艺参数的优化方法,所述方法包括:根据预沉积薄膜的厚度,得到预沉积所述薄膜所需的总沉积时间;将所述总沉积时间分为若干步,每步沉积后有冷却步骤,组成了若干个沉积/冷却循环;根据所述薄膜沉积过程中的沉积温度的上升趋势,在所述沉积温度上升慢的步骤中设定较短的冷却时间,在所述沉积温度上升较快的步骤中设定较长的冷却时间。根据本发明的PVD系统工艺参数的优化方法,改善冷却效果,控制沉积薄膜由于温度高而引起的晶粒长大问题,改善WTW厚度控制,进而提高产品性能和良品率。
申请公布号 CN104928644A 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201410101122.X 申请日期 2014.03.18
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 发明人 陈怡骏;华宇;游宽结;吴秉寰;胡凯
分类号 C23C14/54(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 C23C14/54(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 董巍;高伟
主权项 一种PVD系统工艺参数的优化方法,包括:根据预沉积薄膜的厚度,得到预沉积所述薄膜所需的总沉积时间;将所述总沉积时间分为若干步,每步沉积后有冷却步骤,组成了若干个沉积/冷却循环;根据所述薄膜沉积过程中的沉积温度的上升趋势,在所述沉积温度上升慢的步骤中设定较短的冷却时间,在所述沉积温度上升较快的步骤中设定较长的冷却时间。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号