发明名称 一种EUV光源污染物收集装置
摘要 本发明公开了一种EUV光源污染物收集装置,应用于X射线或者EUV发光装置,其中,所述EUV发光装置包括:一激光源,一真空腔,一集光镜,一喷嘴,其中,EUV光源污染物收集装置包括:一收集罩,收集罩位于真空腔内,用于在激光束打击靶材后收集靶材碎片,减少对EUV光源及其相连光刻机的污染;一储存装置,储存装置位于真空腔的下方,储存装置用于收集靶材和/或污染物。本发明的EUV光源污染物收集装置能够减少靶材碎片等污染物对EUV光源及其相连光刻机的污染,提高其使用寿命,同时降低污染物对EUV光的吸收,大幅度提高EUV光源的效率。本发明能够回收并循环利用靶材,因此能够大幅度提高靶材的利用效率。
申请公布号 CN103108480B 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201210479101.2 申请日期 2012.11.22
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 宗明成;孙裕文;李世光;黄有为
分类号 H05G2/00(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I 主分类号 H05G2/00(2006.01)I
代理机构 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人 刘丽君
主权项 一种EUV光源污染物收集装置,应用于EUV发光装置,其特征在于,其中,所述EUV发光装置包括:一激光源,所述激光源用于发生激光束,打击靶材,产生等离子体,发出X射线或EUV光;一真空腔,所述真空腔用于保持真空环境,提供EUV光的存在环境;一集光镜,所述集光镜位于所述真空腔内,用于聚集所述EUV光;一喷嘴,所述喷嘴位于所述真空腔的上部,用于提供激光等离子体的靶材;其中,所述EUV光源污染物收集装置包括:一收集罩,所述收集罩位于所述真空腔内,用于在所述激光束冲击所述靶材后收集污染物;一储存装置,所述储存装置位于所述真空腔的下方,用于收集所述靶材和/或所述污染物;其中,所述储存装置还包括:一储存槽,所述储存槽用于储存所述靶材和/或所述污染物;一防逆流装置,所述防逆流装置位于所述储存槽与所述收集槽的连接处,用于防止储存槽内的蒸汽倒流入所述真空腔中。
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所