一种X射线测厚仪标定方法

摘要

本发明实施例公开了一种X射线测厚仪标定方法，包括：获取预设的标定后的对数线性模型和双指数模型表；对被测物体进行测量，获得被测物体削弱后的X射线的强度值I；采用所述标定后的对数线性模型依据所述强度值I计算得到被测物体的厚度值X1；判断所述厚度值X1是否大于预设值，如果是，将所述厚度值X1作为所述被测物体的厚度输出，否则，依据所述双指数模型表查找所述强度值I所匹配的厚度值X2，将所述厚度值X2作为所述被测物体的厚度输出，从而实现了被测物体厚度值的确定。

主权项

一种X射线测厚仪标定方法，其特征在于，包括：获取预设的标定后的对数线性模型和双指数模型表；对被测物体进行测量，获得被被测物体削弱后的X射线的强度值I；采用所述标定后的对数线性模型依据所述强度值I计算得到被测物体的厚度值X1；判断所述厚度值X1是否大于预设值，如果是，将所述厚度值X1作为所述被测物体的厚度输出，否则，依据所述双指数模型表查找所述强度值I所匹配的厚度值X2，将所述厚度值X2作为所述被测物体的厚度输出。