发明名称 |
一种NAND闪存的差错控制码结构及其差错码控制方法 |
摘要 |
本发明公开了一种NAND闪存的差错控制码结构,包括码率为0.4~0.9的ECC编码器、码率为0.4~0.9的ECC译码器和NAND闪存控制器。本发明还公开了一种NAND闪存的差错控制码结构的差错码控制方法,包括以下步骤:1、根据不同工艺下的NAND闪存,获取闪存原始误码率与擦写次数的关系;2、计算当UBER低于10<sup>-15</sup>时可接受的RBER;3、根据前面获取的不同工艺下闪存擦写次数与原始误码率的关系,可以计算得出不同原始误码率RBER下闪存的擦写次数;4、计算闪存无误码积分信息容量;5、选取ECC的码率。本发明具有能够使得无误码积分容量最大和有效保证NAND闪存的长期稳定性等优点。 |
申请公布号 |
CN104932952A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201510098970.4 |
申请日期 |
2015.03.05 |
申请人 |
华南理工大学 |
发明人 |
姜小波;谭雪青 |
分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
代理机构 |
广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
代理人 |
罗观祥 |
主权项 |
一种NAND闪存的差错控制码结构,其特征在于,包括:码率为0.4~0.9的ECC编码器、码率为0.4~0.9的ECC译码器和NAND闪存控制器;所述的ECC编码器的数据输出端接到NAND闪存控制器的数据输入接口,ECC译码器的数据输入端与NAND闪存控制器的数据输出接口相连。 |
地址 |
510640 广东省广州市天河区五山路381号 |