发明名称 电子设备的测试方法及装置
摘要 本公开提供了电子设备的测试方法及装置,用以便于没有按键的电子设备进入测试模式,以对电子设备进行测试,其中,方法包括:电子设备上电后,进入测试模式,所述测试模式用于控制所述电子元器件正常工作,并通过正常工作的所述电子元器件控制所述电子设备进入测试状态;电子设备通过测试后,进入熔断模式,所述熔断模式用于熔断所述电子元器件,熔断后的电子元器件与所述电路的连接断开。通过本公开的技术方案,可以方便测试人员对电子设备进行测试,并在测试通过后,保证电子设备能正常工作,从而提升用户的使用体验。
申请公布号 CN104931823A 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201510312124.8 申请日期 2015.06.08
申请人 小米科技有限责任公司 发明人 孙启民;侯恩星;曾凡
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京尚伦律师事务所 11477 代理人 代治国
主权项 一种电子设备的测试方法,所述电子设备包括电路,其特征在于,所述电子设备还包括:用于测试所述电子设备的电子元器件,所述电子元器件与所述电路之间电连接,所述方法包括:所述电子设备上电后,进入测试模式,所述测试模式用于控制所述电子元器件正常工作,并通过正常工作的所述电子元器件控制所述电子设备进入测试状态;所述电子设备通过测试后,进入熔断模式,所述熔断模式用于熔断所述电子元器件,熔断后的电子元器件与所述电路的连接断开。
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