发明名称 |
激光微束背部辐照芯片试验的聚焦平面定位装置及方法 |
摘要 |
本发明提供了激光微束背部辐照芯片试验的聚焦平面定位装置,用于对被测器件进行聚焦平面定位,所述装置包括试验用激光源(1)、聚焦光路调节模块(2)、成像CCD模块(3)、三维移动台(4)及三维移动台控制模块(5);所述试验用激光源(1)用于发射固定参数的脉冲激光;所述聚焦光路调节模块(2)用于对所述试验用激光源(1)发射的脉冲激光进行调节;所述成像CCD模块(3)用于对被测器件的激光反射光斑进行成像;所述三维移动台(4)用于放置被测器件试验电路板;所述三维移动台控制模块(5)用于接收所述成像CCD模块(3)输出的反射光斑成像信号,进行成像对比度检测后形成反馈信号指令,自动调节所述三维移动台(4)的位置。 |
申请公布号 |
CN104931509A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201510347659.9 |
申请日期 |
2015.06.19 |
申请人 |
中国科学院空间科学与应用研究中心 |
发明人 |
马英起;韩建伟;封国强;姜昱光;上官士鹏;余永涛;朱翔;陈睿 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 |
代理人 |
王宇杨;杨青 |
主权项 |
激光微束背部辐照芯片试验的聚焦平面定位装置,用于对被测器件进行聚焦平面定位,其特征在于,所述装置包括试验用激光源(1)、聚焦光路调节模块(2)、成像CCD模块(3)、三维移动台(4)及三维移动台控制模块(5);所述试验用激光源(1),用于发射固定参数的脉冲激光;所述聚焦光路调节模块(2),用于对所述试验用激光源(1)发射的脉冲激光进行调节,使之成为试验用激光微束;所述成像CCD模块(3),用于对被测器件的激光反射光斑进行成像,并输出反射光斑成像信号到所述三维移动台控制模块(5);所述三维移动台(4),用于放置被测器件试验电路板;所述三维移动台控制模块(5),包括第一CCD成像处理单元和第一控制单元;所述第一CCD成像处理单元,用于接收所述成像CCD模块(3)输出的反射光斑成像信号,进行成像对比度检测后形成反馈信号指令,输出到所述第一控制单元;所述第一控制单元,用于接收所述第一CCD成像处理单元发送的反馈信号指令,形成方向和距离的移动控制信号,输出到所述三维移动台(4),自动调节所述三维移动台(4)的位置,当调节到反射光斑的亮度最大值的位置时,完成扫描过程的聚焦平面定位。 |
地址 |
100190 北京市海淀区中关村南二条1号 |