发明名称 复合材料脱粘缺陷超声波C扫描检测面积评定方法
摘要 本发明公开了一种复合材料脱粘缺陷超声波C扫描检测面积评定方法,包括待检产品总面积计算、模拟采集完全脱粘图像、统计模拟完全脱粘图像总像素、正常检测灵敏度下产品检测、统计产品实际脱粘缺陷像素、缺陷比例确定和缺陷面积计算。本发明采用获取像素值的方式取代现有技术中长度测量工具测量面积的方式,具有缺陷面积评定准确度高、计算简单、真实性和可靠性高等优点。
申请公布号 CN104931585A 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201510290015.0 申请日期 2015.05.29
申请人 湖北三江航天江北机械工程有限公司 发明人 王晓勇;马永刚;黄彬;余天雄
分类号 G01N29/06(2006.01)I;G01B17/00(2006.01)I 主分类号 G01N29/06(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 胡镇西;李满
主权项 一种复合材料脱粘缺陷超声波C扫描检测面积评定方法,其特征在于,它包括如下步骤:步骤1:实际测量待检产品的尺寸,通过现有数学方法计算待检产品待检面的总面积;步骤2:将待检产品放置于超声波C扫描检测设备上,移动超声波C扫描检测设备的探头至待检产品待检面,调整超声波C扫描检测设备的波高增益使超声波C扫描检测设备的穿透波幅值为示波屏满幅度的0~10%,超声波C扫描检测设备的闸门高度范围为示波屏满幅度的60%~80%,在此检测灵敏度下进行产品扫查检测,得到待检产品待检面模拟完全脱粘缺陷扫描图像,并保存在超声波C扫描检测设备内;步骤3:将步骤2所得的待检产品待检面模拟完全脱粘缺陷扫描图像导入电脑,并用电脑中的图像处理软件统计出待检产品待检面模拟完全脱粘缺陷扫描图像的总像素,该待检产品待检面模拟完全脱粘缺陷扫描图像的总像素即为待检产品待检面的总像素;步骤4:重新调整超声波C扫描检测设备的检测灵敏度,调整超声波C扫描检测设备的波高增益使超声波C扫描检测设备的穿透波幅值为示波屏满幅度的60%~100%,超声波C扫描检测设备的闸门高度范围为示波屏满幅度的60%~80%,在此检测灵敏度下进行产品扫查检测,得到待检产品待检面实际脱粘缺陷扫描图像,并保存在超声波C扫描检测设备内;步骤5:将步骤4所得的待检产品待检面实际脱粘缺陷扫描图像导入电脑,并用电脑中的图像处理软件统计出待检产品待检面实际脱粘缺陷扫描图像中的脱粘区域的像素,该待检产品待检面实际脱粘缺陷扫描图像中的脱粘区域对应示波屏满幅度0%~20%的区域;步骤6:将步骤5统计出的待检产品待检面实际脱粘缺陷扫描图像中的脱粘区域的像素与步骤3统计出的待检产品待检面模拟完全脱粘缺陷扫描图像的总像素相比,得到脱粘区域面积占待检产品待检面总面积的比值;步骤7:将步骤6得到的脱粘区域面积占待检产品待检面总面积的比值与步骤1计算得到的待检产品待检面总面积相乘,得到待检产品待检面脱粘缺陷的实际面积。
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