触控设备坐标校准方法及装置

摘要

本发明提供一种触控设备坐标校准方法及装置，该方法包括以下步骤：在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标；所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠，并且边缘严格对齐；判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；若否则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准触控设备的各响应坐标计算出校准参数，并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准；若是则校准结束。本发明的方法及装置具有较高的适应性，有很好的市场应用前景。

主权项

一种触控设备坐标校准方法，其特征在于，包括以下步骤：在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标；标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠，并且边缘严格对齐；判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；若否，则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准触控设备的各响应坐标计算出校准参数，并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准；若是，则校准结束。