基于LXI总线的数字测试模块

摘要

本实用新型提供一种基于LXI总线的数字测试模块，包括SRAM控制电路、驱动器、信号连接器、FPGA、LXI接口电路、触发模块、DDS模块。本实用新型采用直接数字频率合成器(DDS可控时钟)产生频率可变时钟，使模块能以灵活多变的数据速率执行测试任务，时钟变化分辨率为0.004Hz，同时利用DDS可控相位的功能实现了采样时钟的一个周期内的调节；网络接口采用标准RJ45接插座，用户只需要用两头带RJ45插头的网线将数字模块与远程控制计算机连接即可，也可以通过10M/100M路由器连接；采用多种时钟控制，且针对不同的测试需要实现了灵活多样的触发控制。

主权项

一种基于LXI总线的数字测试模块，包括SRAM控制电路、驱动器、信号连接器、FPGA，DDS模块，其特征在于：还包括LXI接口电路、触发模块；所述的LXI接口电路包括ARM处理器、FLASH存储电路、SDRAM、RJ45接口和网络物理层芯片、DB9接口和RS323电平转换芯片、晶振电路、复位电路、JTAG电路、实时时钟电路，FLASH存储器用于固化存储系统数据和应用程序、LINUX系统文件；SDRAM同步动态随机存储器用于动态存储过程数据；RJ45接口和网络物理层芯片联合起来提供与控制计算机通讯，实现网络传输的硬件通路；DB9接口和RS323电平转换芯片用于实现固化程序、串口调试、监控功能和实现与外部串口通讯；晶振电路实现ARM处理器所需时钟以及网络物理层芯片所需的时钟；复位电路实现ARM处理器、网络物理层芯片、FLASH复位；JTAG电路提供调试接口电路；实时时钟电路：ARM处理器通过TWI接口与日历芯片PCF8583通信，实现实时时钟RTC，PCF8583的电源使用3V供电的备用电池；ARM处理器采用微处理器AT91RM9200，AT91RM9200通过外部总线接口EBI“External Bus Interface”访问FPGA；触发模块用于触发FPGA内的触发系统。