发明名称 半导体装置用配线构件、半导体装置用复合配线构件、及树脂密封型半导体装置
摘要
申请公布号 TWI501371 申请公布日期 2015.09.21
申请号 TW102131281 申请日期 2009.07.15
申请人 大日本印刷股份有限公司 发明人 马场进;增田正亲;铃木博通
分类号 H01L23/52;H05K3/30 主分类号 H01L23/52
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种树脂密封型半导体装置,其特征为具备:配线构件,具有:绝缘层;配置于绝缘层之一侧,由不锈钢构成的金属基板;及配置于绝缘层之另一侧的铜配线层;在绝缘层之于铜配线层侧或铜配线层上形成半导体晶片载置部;铜配线层系包含:第1端子部,被连接于半导体晶片上之电极;第2端子部,被连接于外部配线构件;及配线部,用于连接第1端子部与第2端子部;及引线框架,电连接于该配线构件之同时,用于载置配线构件;及半导体晶片,被载置于配线构件之半导体晶片载置部,具有电极;半导体晶片上之电极与第1端子部,系藉由由接合导线构成的第1连接部被电连接;第2端子部与引线框架系藉由第2连接部被电连接;在露出引线框架之一部分之状态下,使半导体晶片、铜配线层、引线框架、第1连接部及第2连接部藉由密封树脂部施予树脂密封。
地址 日本