发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI501326 申请公布日期 2015.09.21
申请号 TW099134856 申请日期 2010.10.13
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 林志伟;郑明达;吕文雄;刘重希
分类号 H01L21/60;H01L23/488 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项 一种半导体装置之制造方法,包括:提供一基材;形成一第一凸块下金属(UBM)层于该基材上;形成一罩幕层于该第一凸块下金属层上,其中该罩幕层具有一开口,暴露一部份之该第一凸块下金属层;进行一无电电镀制程以形成一第二凸块下金属层于该罩幕层之该开口所暴露之该第一凸块下金属层上;形成一焊料层于该罩幕层之该开口中的第二凸块下金属层上;移除该罩幕层;移除该焊料层未覆盖的该第一凸块下金属层;形成一铜柱于该罩幕层之该开口中的该第二凸块下金属层与该焊料层之间;以及形成一镍层于该罩幕层之该开口中之该铜柱上。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号