发明名称 量子效率测量方法、量子效率测量装置以及积分器
摘要
申请公布号 TWI500912 申请公布日期 2015.09.21
申请号 TW100105595 申请日期 2011.02.21
申请人 大塚电子股份有限公司 发明人 大泽祥宏;大久保和明
分类号 G01J3/443;G01N21/64 主分类号 G01J3/443
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项 一种量子效率测量方法,包括:在具有积分空间的积分器内的预定位置配置试料的步骤;通过设在前述积分器的第1窗而将激发光照射在被配置在前述预定位置的前述试料,并且通过被设在与前述积分器的前述激发光的光轴不会呈交叉的位置的第2窗而将前述积分空间内的频谱测量为第1频谱的步骤;以透射前述试料后的激发光不会在前述积分空间内反射的方式,构成与前述第1窗相对向而且前述积分器内的前述激发光的光轴所交叉的激发光入射部分的步骤;在被形成为激发光不会在前述积分空间内反射的状态下,通过前述第1窗而将前述激发光照射在被配置在前述预定位置的前述试料,并且通过前述第2窗而将前述积分空间内的频谱测量为第2频谱的步骤;及根据:前述第1频谱之中与前述激发光的波长范围相对应的成分、及前述第2频谱之中接收前述激发光而与前述试料所发出的光的波长范围相对应的成分,来计算出前述试料的量子效率的步骤。
地址 日本