| 摘要 |
1. Магнитный дефектоскоп, содержащий передвижное двухполюсное намагничивающее устройство и датчики магнитного поля, расположенные над поверхностью контролируемого изделия, отличающийся тем, что намагничивающее устройство выполнено с плоскостью намагничивания, перпендикулярной направлению передвижения, а датчики магнитного поля размещены за пределами намагничивающего устройства с осями чувствительности, расположенными в плоскости, перпендикулярной направлению передвижения.2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено двумя датчиками магнитного поля, расположенными симметрично относительно средней линии намагниченной полосы контролируемого изделия, с осями чувствительности, направленными под одинаковым углом к поверхности изделия, причем датчики включены последовательно-согласно по отношению к остаточному магнитному полю намагниченной полосы изделия.3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно дополнительно снабжено измерителем пройденного пути в направлении передвижения. |
