发明名称 Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen eines Grads einer Verschmutzung auf einer Oberfläche
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft eine verbesserte Erfassung des Grads einer Verschmutzung auf einer Oberfläche. Hierzu wird die Verschmutzung der Oberfläche durch eine Mehrzahl von Sensoren überwacht. Ein resistiver Sensor bestimmt dabei die elektrische Leitfähigkeit der Verschmutzung auf der Oberfläche, und ein kapazitiver Sensor bestimmt basierend auf einer Variation der Kapazität die Schichtdicke der Verschmutzung. Die Auswertung weiterer Sensorsignale ist darüber hinaus ebenso möglich. Basierend auf den erfassten Sensorwerten kann das Erreichen einer kritischen Verschmutzung erkannt und dies einem Benutzer signalisiert werden. Somit kann die Verschmutzung eines elektrischen Isolatorsystems überwacht werden und ein bevorstehender Fremdschichtüberschlag an einem Isolator kann zuverlässig prognostiziert werden.
申请公布号 DE102014204883(A1) 申请公布日期 2015.09.17
申请号 DE201410204883 申请日期 2014.03.17
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 THEILE, OLIVER;HASSEL, JÖRG;PROBOL, CARSTEN;REZNIK, DANIEL
分类号 G01N27/22;G01N27/04 主分类号 G01N27/22
代理机构 代理人
主权项
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