发明名称 INGANチャネルのN極のGANHEMT特性
摘要 <p>二次元電子ガス(2DEG)層の形成のためにInGaNチャネルを備える、N極の高電子移動度トランジスタ(HEMT)デバイスが、開示される。この新規なチャネル層は、電子伝達の改善を提供する。それは、より高い周波数の無線周波数(RF)性能を可能にする、より高い電子移動度及び高い界速度を備える。デバイスはまた、2DEGに二重の閉じ込めを提供するInGaNチャネル層の上に堆積される、GaNキャップ層を含み得る。【選択図】図2A</p>
申请公布号 JP2015527749(A) 申请公布日期 2015.09.17
申请号 JP20150528464 申请日期 2013.06.26
申请人 发明人
分类号 H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812 主分类号 H01L21/338
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利