发明名称 半导体器件筛选分类装置
摘要 一种半导体器件筛选分类装置,包括第一料盒、第二料盒以及与所述第一料盒连通的第一输料管、与所述第二料盒连通的第二输料管,在所述第一输料管的入口处的一侧设置有吹气口,所述第二输料管的入口设置在所述第一输料管的入口处的另一侧且正对所述吹气口。在所述第一输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器,在所述第二输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器。所述第一感应器和所述第二感应器均为光纤传感器。设置的第一料仓用以容纳所述第一料盒,所述第一料仓的顶部与所述第一输料管连通。这种结构的不良品分类装置能够根据要求将不同类型的不良品准确分类到两个不同的料盒中。
申请公布号 CN204638592U 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201520259090.6 申请日期 2015.04.27
申请人 深圳市复德科技有限公司 发明人 龙超祥;黎前军
分类号 B07C5/36(2006.01)I 主分类号 B07C5/36(2006.01)I
代理机构 深圳市惠邦知识产权代理事务所 44271 代理人 孙大勇
主权项 一种半导体器件筛选分类装置,其特征是:包括第一料盒(11)、第二料盒(21)以及与所述第一料盒(11)连通的第一输料管(12)、与所述第二料盒(21)连通的第二输料管(22),在所述第一输料管(12)的入口处的一侧设置有吹气口(31),所述第二输料管(22)的入口设置在所述第一输料管(12)的入口处的另一侧且正对所述吹气口(31)。
地址 518103 广东省深圳市宝安区福永街道天福路红牌科技园第3幢第二层A