发明名称 单片集成红外焦平面探测器
摘要 本发明提供了一种单片集成红外焦平面探测器,包括:衬底;TFT信号读出电路阵列以及TFT信号处理电路阵列,位于衬底之上;红外探测像素单元阵列,位于TFT信号读出电路阵列之上。相应地,本发明还提供了单片集成红外焦平面探测器的制造方法。本发明利用非晶态氧化物半导体的高迁移率、高均匀性和简单工艺的特性,将处理电路、读出电路与探测器阵列集成制作在同一衬底基板上。实现了制作探测器与读出电路的全薄膜工艺,在工艺流程上一次完成,因而降低了制作成本。
申请公布号 CN103076099B 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201310024184.0 申请日期 2013.01.23
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 殷华湘;王玉光;陈大鹏
分类号 G01J5/00(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I 主分类号 G01J5/00(2006.01)I
代理机构 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 代理人 朱海波;何平
主权项 一种单片集成红外焦平面探测器,包括:衬底;TFT信号读出电路阵列以及TFT信号处理电路阵列,位于衬底之上;其中,TFT为非晶态氧化物半导体TFT;红外探测像素单元阵列,位于TFT信号读出电路阵列之上;其中,红外探测像素单元为微桥绝热结构的红外探测像素单元,其中,每个红外探测像素单元与TFT信号读出电路之间存在微桥隔热空腔(360),每个红外探测像素单元与TFT信号读出电路通过互连电极(340)相连。
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号