用于进行功能和结构测试和调试的基于功能结构测试控制器

摘要

用于促进测试集成在系统芯片（SoC）上的IP块的测试访问机构（TAM）架构。TAM架构包括集成在SoC上IP块附近的测试控制器和一个或多个测试包装器。由测试控制器封装对应于来自外部测试器的输入的测试数据和命令，并通过互连结构发送到测试包装器。测试包装器使用与一个或多个测试端口的接口来向IP块提供测试数据、控制、和/或刺激信号，以促进对IP块的电路级别的测试。电路级别测试的测试结果通过结构被返回到测试控制器。测试包装器可以被配置成传递互连信号，允许经由测试包和经由结构在测试控制器和IP块之间传输的测试结果来促进对IP块的功能测试。TAM可以在结构到结构桥接器中实现，允许对连接到桥接器的两端的结构的IP块进行测试。

主权项

一种系统芯片(SoC)，包括：第一互连结构；第二互连结构；耦合到所述第一和第二互连结构中的每一个的结构到结构桥接器；测试访问机构(TAM)，具有包括在所述结构到结构桥接器中实现的测试控制器的至少一部分；可操作地耦合到所述第一互连结构的第一知识产权(IP)块；以及可操作地耦合到所述第二互连结构的第二IP块，其中，所述TAM被配置成从外部测试器接收对应于要对所述第一IP块执行的一个或多个测试的测试输入，并经由所述结构‑到结构桥接器，通过所述第一互连结构，发送相应测试数据和/或测试命令用于测试所述第一IP块。