发明名称 图像传感器及制备方法、减少电学互扰的方法
摘要 本发明提供了图像传感器及制备方法、减少电学互扰的方法,在具有光电二极管和像素单元电路的像素单元结构中,向半导体衬底中且对应于浅沟槽隔离结构下方的区域进行离子注入,以形成离子注入区,这些注入的离子经退火后形成多个空隙,这些空隙成为电子迁移的势垒,由于在光电二极管和像素单元电路下方的区域为非耗尽区,从而阻挡非耗尽区的电子扩散到邻近的像素单元,以降低邻近像素之间的电学互扰。
申请公布号 CN104916655A 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201510367294.6 申请日期 2015.06.29
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 田志;陈昊瑜;顾珍
分类号 H01L27/146(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人 吴世华;陈慧弘
主权项 一种减少CMOS图像传感器电学互扰的方法,其特征在于,包括:步骤01:提供一半导体衬底,并在所述半导体衬底中形成多个浅沟槽隔离结构,并形成位于相邻的浅沟槽隔离结构之间的光电二极管区域和像素单元电路区域;浅沟槽隔离结构用于隔离相邻的像素单元电路区域;步骤02:向所述半导体衬底中且对应于所述浅沟槽隔离结构下方的区域进行离子注入,以形成离子注入区;步骤03:经退火工艺,在所述离子注入区中形成多个空隙。
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号