发明名称 |
加厚之应力缓冲及功率分配层;THICKENED STRESS RELIEF AND POWER DISTRIBUTION LAYER |
摘要 |
一实施例包括一种半导体结构,包含:一前端部分包括一装置层;一后端部分包括一金属底层、一金属顶层及介于该金属底层及该金属顶层之间的一金属中间层;其中(a)金属顶层包括一第一厚度垂直于该金属顶层所在之水平面,该金属底层包括一第二厚度;及该金属中间层包括一第三厚度;以及(b)该第一厚度大于或等于该第二厚度及该第三厚度之一总合。其它实施例将在文中描述。; a backend portion including a bottom metal layer, a top metal layer, and intermediate metal layers between the bottom and top metal layers; wherein (a) the top metal layer includes a first thickness that is orthogonal to the horizontal plane in which the top metal layer lies, the bottom metal layer includes a second thickness; and the intermediate metal layers includes a third thickness; and (b) the first thickness is greater than or equal to a sum of the second and third thicknesses. Other embodiments are described herein. |
申请公布号 |
TW201535595 |
申请公布日期 |
2015.09.16 |
申请号 |
TW103139910 |
申请日期 |
2014.11.18 |
申请人 |
英特尔股份有限公司 INTEL CORPORATION |
发明人 |
费契尔 凯文 FISCHER, KEVIN J.;佩尔图 克里斯多夫 PELTO, CHRISTOPHER M.;杨 安卓 YEOH, ANDREW W. |
分类号 |
H01L21/768(2006.01);H01L21/56(2006.01);H01L23/48(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
美国 US |