发明名称 具有全包覆线的互连线;INTERCONNECTS WITH FULLY CLAD LINES
摘要 一种包括全包覆互连线的金属化层及一种形成全包覆互连线的方法。开口被形成于介电层中,其中该介电层具有表面且该开口包括壁及底部。扩散阻障层及黏着层被沈积于该介电层上。互连线材料被沈积于该介电层上及回焊至该开口中形成互连线。黏着盖层及扩散阻障盖层被沈积于该互连线之上。该互连线被该黏着层及该黏着盖层围绕且该黏着层及该黏着盖层被该扩散阻障层及该扩散盖层围绕。
申请公布号 TW201535593 申请公布日期 2015.09.16
申请号 TW103132991 申请日期 2014.09.24
申请人 英特尔股份有限公司 INTEL CORPORATION 发明人 钱霍克 曼尼许 CHANDHOK, MANISH;柳惠宰 YOO, HUI JAE;杰西 克里斯多夫 JEZEWSKI, CHRISTOPHER J.;契必安 拉马南 CHEBIAM, RAMANAN V.;卡佛 柯林 CARVER, COLIN T.
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L23/52(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国 US