发明名称 |
缺陷检测方法及缺陷检测装置 |
摘要 |
一种缺陷检测方法,用以取得一待测物的影像以对其进行缺陷检测,该方法提供一灯源,使交替发出一第一种光及一第二种光,并在该灯源发出该第一种光时,以一控制器控制一取像单元,使在该第一种光的亮度维持在一第一预设亮度的至少一半以上的一第一时间区间,取得该待测物的一第一影像,以及在该灯源发出该第二种光时,以该控制器控制该取像单元,使在该第二种光的亮度维持在一第二预设亮度的至少一半以上的一第二时间区间,取得该待测物的一第二影像。 |
申请公布号 |
TW201534896 |
申请公布日期 |
2015.09.16 |
申请号 |
TW103108386 |
申请日期 |
2014.03.11 |
申请人 |
由田新技股份有限公司 UTECHZONE CO., LTD. |
发明人 |
高志豪;邓亦书 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01);G01N21/956(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
新北市中和区连城路268号10楼之1 TW |