发明名称 一种基于矩阵分析的RFID标签分布优选配置方法
摘要 RFID系统的读取率取决于RFID标签碰撞、读取距离等多方面因素的影响,包括RFID标签位置对于读取率的影响。而RFID技术的主要优势在于多目标同时识别,如果由于RFID读写器读写效率降低,产生漏读或误读等现象,那么RFID识别优势将不再存在。因此,优化RFID标签分布位置,从而提高RFID标签读取率,对于RFID技术的发展至关重要。一种基于矩阵分析的RFID标签分布优选配置方法,通过对RFID读写器得到的RFID标签矩阵进行行列式、元素标准差计算等矩阵分析步骤以及获得的读取率,从而对RFID标签位置进行优选,找到识读性能最优的标签摆放位置,进而从RFID标签分布优选配置角度降低实际工作环境对读取率的影响,本项发明具有重要的理论和应用价值。
申请公布号 CN103235963B 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201310175258.0 申请日期 2013.05.14
申请人 南京航空航天大学;江苏省标准化研究院 发明人 于银山;俞晓磊;赵志敏;汪东华
分类号 G06K17/00(2006.01)I;G01S5/08(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06K17/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于矩阵分析的RFID标签分布优选配置方法,包括以下步骤:第一步骤:搭建测试平台步骤,测试平台由测量天线、RFID读写器、控制计算机、电机、导轨、托盘构成,托盘和测量天线分别位于导轨两端,测量天线与RFID读写器相连,托盘上放置贴有RFID标签的测试样品;第二步骤:RFID标签信号强度测量步骤,托盘在导轨上由电机带动向测量天线运动,随着托盘靠近测量天线,当测试天线和托盘的距离为R时,测量天线测量每个RFID标签的信号强度,同时测量RFID标签读取率,存储于控制计算机中;第三步骤:矩阵分析步骤,将以上第二步骤测量得到的RFID标签信号强度作为矩阵元素组成RFID标签分布矩阵,计算RFID标签分布矩阵标准差和RFID标签分布矩阵的行列式;第四步骤:RFID标签信号强度分布图绘制步骤,由RFID标签位置作为横坐标,RFID标签信号强度作为纵坐标,绘制出RFID标签信号强度分布图;第五步骤:RFID标签分布优选配置确定步骤,将贴有RFID标签的测试样品按照不同分布重新摆放,重复以上第二、三、四步骤,在H次测量和计算后,根据以上第二步骤获得的RFID标签读取率和第三步骤获得的RFID标签分布矩阵的行列式以及RFID标签分布矩阵标准差,找出具有最小RFID标签分布矩阵标准差、最小RFID标签分布矩阵行列式以及最大RFID标签读取率的RFID标签分布,作为最优RFID标签分布配置方案。
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