发明名称 |
一种基于CT重建材料构件内部位移场的测量系统 |
摘要 |
本发明公开了一种基于CT重建材料构件内部位移场的测量系统,包括实验台、CT机主体、待测材料构件、铁砂颗粒、物质识别与图像处理计算机、与CT机配套的控制计算机、CT机显示控制台和数据分析计算机;CT机主体用于采集待测材料构件的CT扫描数据,物质识别与图像处理计算机对待测材料构件的CT扫描数据进行三维重建可得到铁砂颗粒各时刻的三维位置分布图;数据分析计算机对铁砂颗粒的三维位置分布图进行图形处理并对不同阶段所有铁砂颗粒的位置进行全场匹配,确定不同时刻、各个铁砂颗粒的位置变化并连成整个位移场。本发明操作简单,精度高,对被测材料构件的力学性能影响小,实现了材料构件内部整个位移场的测量。 |
申请公布号 |
CN104914118A |
申请公布日期 |
2015.09.16 |
申请号 |
CN201510313932.6 |
申请日期 |
2015.06.09 |
申请人 |
河海大学 |
发明人 |
熊勃勃;乔一帆;高世凯 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G01B15/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
南京纵横知识产权代理有限公司 32224 |
代理人 |
董建林;汪庆朋 |
主权项 |
一种基于CT重建材料构件内部位移场的测量系统,其特征在于,包括实验台(1)、安装在实验台(1)上的CT机主体(2)、放置在CT机主体(2)上的测量环内部的待测材料构件(3)、在待测材料构件(3)制作成型之前添加到其材料中用于追踪标示待测材料构件(3)在荷载作用下内部位移场变化的铁砂颗粒(4)、与CT机主体(2)相连接并与CT机配套的物质识别与图像处理计算机(5)、与CT机配套用于控制CT机主体(2)运行的控制计算机(6)、用于操作CT机扫描不同实验阶段含有铁砂颗粒(4)的待测材料构件(3)的CT机显示控制台(7)和数据分析计算机(8);所述CT机主体(2)用于采集待测材料构件(3)的CT扫描数据;所述物质识别与图像处理计算机(5)对CT扫描数据进行三维重建可得到铁砂颗粒(4)各时刻的三维位置分布图;所述数据分析计算机(8)对三维位置分布图进行图形处理,并对不同阶段所有铁砂颗粒(4)的位置进行全场匹配,从而确定不同时刻、各个铁砂颗粒(4)的位置变化并连成整个位移场。 |
地址 |
210024 江苏省南京市鼓楼区西康路1号 |