发明名称 在鳍式场效电晶体装置上形成替代闸极结构和鳍部的方法及该产生的装置;METHODS OF FORMING REPLACEMENT GATE STRUCTURES AND FINS ON FINFET DEVICES AND THE RESULTING DEVICES
摘要 本发明涉及在鳍式场效电晶体(FinFET)装置上形成替代闸极结构及鳍部的方法以及装置,揭露的一种方法包括:除其他以外,移除牺牲闸极结构以定义替代闸极开口;通过该替代闸极开口执行蚀刻制程,以使用将该替代闸极开口内暴露的图案化硬遮罩作为蚀刻遮罩而在半导体材料层中定义鳍部结构;以及围绕该鳍部结构的至少部分在该替代闸极开口中形成替代闸极结构。
申请公布号 TW201535744 申请公布日期 2015.09.16
申请号 TW103138672 申请日期 2014.11.07
申请人 格罗方德半导体公司 GLOBALFOUNDRIES US INC. 发明人 谢瑞龙 XIE, RUILONG;雅各布 阿乔伊 布凡努姆帝 JACOB, AJEY POOVANNUMMOOTTIL
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L29/423(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄陈昭诚
主权项
地址 美国 US