发明名称 检查单元;INSPECTION UNIT
摘要 本发明之检查单元系具备有:第1接触探针,系在与设置于一方接触对象物的表面之电极接触,并且与另一方接触对象物之电极接触;第2接触探针,系与设置于一方接触对象物的背面之电极接触,并且与基板之电极接触;第1探针保持具,系具有吸附并保持一方接触对象物之吸附保持部,并且收容并保持复数个第1接触探针;第2探针保持具,系收容并保持复数个第2接触探针;以及基底部,系积层于第1探针保持具,并且在与第1探针保持具的积层侧保持另一方接触对象物;而在另一方接触对象物与第1探针保持具之间形成有间隙。
申请公布号 TW201534930 申请公布日期 2015.09.16
申请号 TW104104993 申请日期 2015.02.13
申请人 日本发条股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD. 发明人 広中浩平 HIRONAKA, KOHEI;仁平崇 NIDAIRA, TAKASHI;米田知広 YONEDA, TOMOHIRO
分类号 G01R1/073(2006.01);G01R31/00(2006.01) 主分类号 G01R1/073(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄陈昭诚
主权项
地址 日本 JP